一起來認識IDI ICT測試探針吧！

IDI的探針構造

IDI ICT測試探針內管的頂部分成4片具有彈性的梁式構造，從而使探針針軸和內管永遠“親密”接觸, 間距永遠為零，這是IDI ICT 測試探針具有極其安定電阻的根本原因。另外具有彈性的內管在每一次壓縮，每一次行程都可以拂拭針軸的表面，去掉附著在針軸表面的異物，一方面增加了測試探針的壽命，另一方面保證了測試探針電阻值的穩定。更加重要的一點，針軸永遠是直進直出，使測試探針的接觸精度大大提高。

結實耐用

IDI ICT系列測試探針非常結實耐用，內管頂部的梁式構造在探針的內管彎曲以前不會變形。另外此種設計可以使彈簧的壓力更大，彈簧的長度更長，從而有效避免因為過度被壓縮而導致的探針卡殼等故障的發生。

專利材料使探針的壽命更長

IDI工程師開發了先進的熱處理技術，使測試探針的鋼制針軸更硬，同時保持了鋼的韌性。內管采用了特殊材料和電鍍G2，使測試探針不易從外管中滑出。

以上可見，IDI ICT測試探針具有更低的電阻，更精確的接觸精度，更高的一次測試通過率(first pass yields)，以及更長的壽命。這一切都是因為在對過去的探針技術進行反思之后，IDI創造了具有直進直出構造探針的生產技術。

IDI ICT測試探針更長的探針壽命以及更高的一次測試通過率，定會使您受益非淺。

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